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ES 08D-h 型电场源是一个探针，用于检查集成电路引脚或者布线等的敏感度。检测时，探头的尖端连接到引脚或布线，通过改变EFT或爆冲发生器的干扰脉冲强度检测引脚的灵敏度。在场源内部，干扰脉冲电容式地耦合到探针，因此不会影响到有效信号。
ES 05D-h型电场源的探头内有一个狭窄的去耦合电。因此适合于想导线、小型元件机器连接器、线缆及单个的元件施加电场。它还可以用于测量那些单个的插接件或扁平带状电缆的芯线。
该场源面积较大，能够大范围地向机箱表面，连接件，带导体结构的模块以及集成电路（如总线系统，液晶显示器）等施加耦合干扰电场。该场源的尖端部位，也可用于定位对电场敏感的较小结构（导线，晶振，上拉电阻，IC等）。